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供应全自动光学元件光谱分析仪
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- 产品特性
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透 射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
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